MURATest亮度均匀性测试仪

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ELDIM MURATest亮度均匀性测试仪

MURATest亮度均匀性测试仪

MURATest系统是用(yòng)于对表面发光产品的色度均匀性的快速精确的检测。对显示模组、显示墙及成批显示设备的色度均匀性的精确的指标量化,此设备是理(lǐ)想的选择,在视频比色领域MURATest系统是一个突破。它的创新(xīn)设计,使用(yòng)了5个色度滤波器和高品质的光學(xué)器件,同样,它的制造过程包括多(duō)样化的设计和校准步骤,保证了它的检测性能(néng)。

传感器头
塞贝尔式冷却照相机在极限环境下(象非常低的亮度電(diàn)平)可(kě)传送高灵敏性的光信号,它可(kě)适应各种各样的传感器的灵敏度,包括巨大的16M像素。

技术特点如下:
低噪声、高动态范围
蓝增强柯达CCD
冷却式CCD把温度完全稳定在-20℃。
16位A/D转换器
暗電(diàn)流补偿
自动或手动灵敏操纵模式
USB2.0插头及播放

色度过滤
I.转轮式色度计典型特征是三个滤波器产生很(hěn)低的色度精确度,三滤波式色度计只针对周围的有(yǒu)用(yòng)的色度参数(象校准标准)是精确的,它们的精度无疑落下了色度空间中的其它颜色,ELDIM公司的设计是通过提供一套可(kě)选择的方案,在任何色度刺激下测量色度精度在0.005RMS( x,y值)以内。

II.设计功能(néng)
CCD传感器光谱响应的表示法
使用(yòng)5级滤波器
每级滤波器特别的设计可(kě)以完美地拟合CIE参数曲線(xiàn)
圆形CCD光學(xué)设计避免了失真
高级别的光學(xué)系统提供了精确的光传导

III.校准
NIST(國(guó)家标准与技术协会)推荐:从4到7色的矩阵法
参考色分(fēn)散明显的色空间
连接國(guó)际标准

光學(xué)特性

所有(yǒu)的光學(xué)器件的制造均通过ELDIM实验室,独特的塞贝尔CCD的设计及高品质的控制过程使其具有(yǒu)高MFT和低失真特性。
光學(xué)失真低于CCD像素点
无虚影
失真﹤0.1%
MTF﹥50lpm
前置光圈虚影電(diàn)子眼测量
当改变工作距离时无额外校准

应用(yòng)

由于配备附加的专业光學(xué)系统,专业执行滤波器和近产生的满足许多(duō)工业标准的科(kē)技传感器,因此ELDIM的MURATest系统适用(yòng)于许多(duō)不同的高级别要求的光學(xué)领域,此系统还配备安装了专业的应用(yòng)软件。可(kě)应用(yòng)与以下领域:
LCD模组的均匀性的缺陷
PDP图像拖影
CCFL照明和背光模组
仪表盘和驾驶仓环境
发射系统均匀化

软件

软件可(kě)支持双方照相采样和数据分(fēn)析的无線(xiàn)控制,所有(yǒu)的照相参数的设置是通过一个对话框进行设置、参数保存然后应用(yòng)的。软件界面友好易懂,包括方便的分(fēn)析工具,例如典型的是:缩放,區(qū)域选择,数据报告输出。软件自带的ActiveX功能(néng)库包括更多(duō)的自动分(fēn)析和检测功能(néng),因此用(yòng)户可(kě)以用(yòng)LabVIEW,Excel,Visual Basic.建立自己的控制程序。

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